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線粒體膜電位檢測(cè)試劑盒（JC-1法）

更新時(shí)間：2020-10-30      瀏覽次數(shù)：1561

線粒體膜電位檢測(cè)試劑盒（JC-1法）

 線粒體膜勢(shì)能的檢測(cè)

      線粒體在細(xì)胞凋亡的過(guò)程中起著樞紐作用，多種細(xì)胞凋亡刺激因子均可誘導(dǎo)不同的細(xì)胞發(fā)生凋亡，而線粒體跨膜電位的下降，被認(rèn)為是細(xì)胞凋亡級(jí)聯(lián)反應(yīng)過(guò)程中早發(fā)生的事件，它發(fā)生在細(xì)胞核凋亡特征（染色質(zhì)濃縮、DNA斷裂）出現(xiàn)之前，一旦線粒體膜電勢(shì)能（DYmt）崩潰，則細(xì)胞凋亡不可逆轉(zhuǎn)。

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